Michael A. O'Keefe

För andra personer med samma namn, se Michael O'Keefe (disambiguation) .

Michael A. O'Keefe (född 8 september 1942 i East Melbourne, Australien ) är en fysiker som har arbetat inom materialvetenskap och elektronmikroskopi . Han är kanske mest känd för sin produktion av den främsta datorkoden för modellering av högupplöst transmissionselektronmikroskopi ( HRTEM); hans programvara gjordes senare tillgänglig som en del av DeepView-paketet för fjärrelektronmikroskopi och kontroll. O'Keefes handledning om teori och tillämpning av högupplöst elektronmikroskopbildsimulering är tillgänglig online.

O'Keefe har etablerat metoder för att kvantifiera upplösningskvalitet och metoder för att härleda exakta atompositioner från högupplösta bilder. Han använde dessa metoder för att etablera högupplöst elektronmikroskopi som en exakt vetenskap; förutom dess mer fotgängare roll som bildlig bekräftelse av nanomätningar, visade han HRTEM:s värde vid mätning av nanoegenskaper. Videon och tillhörande bilder illustrerar rollen av hans arbete för att tillhandahålla verktyg för nanokarakterisering.

O'Keefe designade och utvecklade ett- Ångström- mikroskopet (OÅM) för National Center for Electron Microscopy vid Lawrence Berkeley National Laboratory baserat på ett FEI Company CM300-mikroskop som han modifierade omfattande för att förbättra koherensen och korrigera trefaldig astigmatism. Han lyckades bryta "en-Ångström-barriären" för upplösning med sin kombination av hård- och mjukvarukorrigering av mikroskopaberrationer. Han producerade de första HRTEM-bilderna för att visa kolatomer separerade av mindre än en Ångström i diamant (0,89 Å) och kiselatomer i kristallint kisel (0,78 Å) – ett exempel på hans kiselarbete finns på en webbsida vid Department of Energy. Hans OÅM var den första HRTEM som kunde avbilda de minsta metallatomerna ( litium ) i litiumbatterimaterial . Med utgångspunkt i sitt arbete med att designa och använda sitt en- Ångström- mikroskop (OÅM), producerade O'Keefe designen för LBNL TEAM (transmission electron aspheric microscope) som kan lösa upp atomer i den djupa sub-Ångström-upplösningsregionen (mindre än 0,5 Å) med användning av en hårdvaruelektronvågsfaskorrektor (Cs corrector) i kombination med en koherensförbättrande elektronstrålemonokromator.