Beskrivningsspråk för gränsavsökning

Boundary scan description language ( BSDL ) är ett hårdvarubeskrivningsspråk för elektroniktestning med JTAG . Den har lagts till i IEEE Std. 1149.1 och BSDL-filer stöds allt mer väl av JTAG-verktyg för gränsavsökningsapplikationer och av testfallsgeneratorer.

BSDL översikt

BSDL var en undergrupp av VHDL . Men sedan IEEE 1149.1-2013 är det inte längre en "riktig" delmängd av VHDL utan den anses vara baserad på VHDL. Det är formellt definierat i IEEE Standard 1149.1 Annex B. Varje BSDL-fil beskriver en version av en IC och har många paketnålskartor som är tillgängliga för en viss tärning . Detta är nödvändigt eftersom till exempel två olika BGA- paket kommer att ha olika bollar; även om bollen har samma namn kan den vara bunden till en annan signal på det andra paketet, och ibland ändras bindningar mellan revisioner.

Varje digital signal (stift eller kula) på förpackningen definieras, liksom registren och opkoderna som används i en IEEE 1149.1 , IEEE 1149.6, IEEE 1149.8.1, IEEE 1532 och IEEE 1149.4-kompatibel IC. Det finns ett instruktionsregister, minst ett 1-bitars förbikopplingsregister, ett gränsavsökningsregister och valfritt ett 32-bitars device_id-register. De andra registren än instruktionsregistret kallas TDR eller testdataregister. Gränsavsökningsregistret (BSR) är unikt eftersom det är registret som också mappas till enhetens I/O. Många av BSDL-definitionerna är uppsättningar av enstaka långa strängkonstanter.

Observera att register som inte är involverade i gränsavsökning ofta inte definieras. Instruktioner som inte är offentligt definierade ingår i avsnittet INSTRUCTION_PRIVATE. Mikroprocessorregisterbeskrivningar i BSDL innehåller vanligtvis inte tillräckligt med information för att hjälpa till att bygga en 1149.1-baserad emulator eller debugger .

externa länkar

^ "BSDL-handledning" . Corelis utbildning.
^ "IEEE 1149.1-2013 - IEEE-standard för teståtkomstport och Boundary-Scan-arkitektur" . standards.ieee.org . Hämtad 2019-02-25 .

[BSC1-1] "BSDL-handledning" . Corelis utbildning.

[2] "IEEE 1149.1-2013 - IEEE-standard för teståtkomstport och Boundary-Scan-arkitektur" . standards.ieee.org . Hämtad 2019-02-25 .