Akustisk resonansteknik

Akustisk resonansteknik ( ART ) är en akustisk inspektionsteknik utvecklad av Det Norske Veritas under de senaste 20 åren. ART utnyttjar fenomenet halvvågsresonans, varvid ett lämpligt exciterat resonantmål (som en rörledningsvägg) uppvisar longitudinella resonanser vid vissa frekvenser som är karakteristiska för målets tjocklek. Genom att känna till ljudets hastighet i målmaterialet kan halvvågsresonansfrekvenserna användas för att beräkna målets tjocklek.

ART skiljer sig från traditionell ultraljudstestning : även om båda är former av oförstörande testning baserad på akustik, använder ART generellt lägre frekvenser och har en bredare bandbredd. Detta har möjliggjort dess användning i gasformiga miljöer utan vätskekoppling.

Det Norske Veritas har licensierat tekniken för användning i vattenledningar på land över hela världen till Breivoll Inspection Technologies AS . Breivoll har bevisat teknikens effektivitet vid bedömning av tillståndet hos metalliska vattenrör, både med och utan beläggning. Företaget har sedan 2008 framgångsrikt utvecklat en metod för att gå in och inspektera vattenledningar och är världsledande på sin marknad.

ART har också använts i fälttester vid Gasscos Kårstø - anläggning.

2012 delades DNV:s ART-aktiviteter ut till ett dotterbolag HalfWave .

Huvuddrag

Använder lägre frekvenser än ultraljudstestning
Effektiv i gaser och vätskor (dvs. kräver ingen vätskekoppling)
Kan användas för att karakterisera flerskiktsmedia (t.ex. rörledningar med beläggningar)
Kan penetrera beläggningar
Kan mäta in- och utvändig metallförlust

RUV (resonans ultraljudsvibrationer)

I en närbesläktad teknik kan förekomsten av sprickor i en solid struktur detekteras genom att leta efter skillnader i resonansfrekvens, bandbredd och resonansamplitud jämfört med en nominellt identisk men icke-sprickad struktur. Denna teknik, som kallas RUV (Resonance Ultrasonic Vibrations), har utvecklats för användning inom solcellsindustrin av en grupp forskare från University of South Florida, Ultrasonic Technologies Inc. (Florida, USA) och Isofoton SA (Spanien). Metoden kunde detektera mm-stora sprickor i as-cut och processed kiselwafers, samt färdiga solceller, med en total testtid på under 2 sekunder per wafer.